Energie-Forschung: Fraunhofer CSP entwickelt Verfahren für rechtssichere Nachweise von Patentverletzungen bei „Next Generation“-Solartechnologien

Halle (Saale) - Für den kontinuierlichen Ausbau der Photovoltaik und den nachhaltigen Aufbau von Fertigungskapazitäten für Solarzellen sind technologische Weiterentwicklungen und funktionierender Wettbewerb auf internationalen Märkten entscheidend.

Technologische Alleinstellungsmerkmale erhöhen die Wettbewerbsfähigkeit von Unternehmen allerdings nur dann nachhaltig, wenn sie durch wirkungsvollen Patentschutz begleitet werden, da Erfindungen in Solarzellen kopiert werden können und Schutzrechtsverletzungen schwer erkennbar sind. Hersteller berücksichtigen zunehmend die juristisch-technologische Absicherung von „Intellectual Property“ (IP) für bestehende und zukünftige Solarzelltechnologien wie PERC, HJT, TOPCon, Rückkontaktzellen oder Perowskit-Tandems.

Hier setzt das neue Projekt „IP-Schutz - Hochauflösende Material- und Dünnschicht-Analytik für Next Generation-Solarzelltechnologien zum Schutz des geistigen Eigentums für deutsche und europäische Marktteilnehmer“ an. Zusammen mit weiteren Partner forscht das Fraunhofer-Center für Silizium-Photovoltaik (Fraunhofer CSP) in dem Projekt an präparativen und analytischen Verfahren für die hochauflösende Material- und Dünnschichtcharakterisierung, um rechtssichere Nachweise von Patentverletzungen erbringen zu können.

Das vom Bundesministerium für Wirtschaft und Klimaschutz BMWK geförderte Projekt, das noch bis März 2027 läuft, verfolgt das Ziel, neue präparative Verfahren und analytische Techniken für die hochauflösende Material- und Dünnschichtcharakterisierung mit Fokus auf den Grenzflächen zu entwickeln. Innovative Verfahren zur großflächigen Präparation und hochauflösenden Charakterisierung von verkapselten Schichten, zur Lokalisierung von mikroskopischen Strompfaden und zur Bewertung von lokalen Passivierungseigenschaften stehen dabei im Mittelpunkt. Diese Methoden sollen mit vereinfachten und schnellen Messverfahren korreliert und in praxistaugliche Anwendung gebracht werden. Das Fraunhofer CSP bringt im Projekt sein umfangreiches Know-how und seine umfassende Geräteausstattung im Bereich der Material- und Dünnschicht-Analytik ein.

„Praxisrelevante und juristisch belastbare materialanalytische Methoden zur Bewertung von Schutzrechtsverletzungen sind für die Photovoltaik-Industrie von großem Interesse. Sie sind Voraussetzung für die industrielle Verwertung von Forschungsergebnissen und betreffen schon heute erhältliche Solarmodule auf internationalen Märkten ebenso wie die Absicherung zukünftiger Patente in der Vorausentwicklung“, so Dr. Marko Turek, kommissarischer Gruppenleiter Diagnostik und Metrologie Solarzellen am Fraunhofer CSP.

„Wir können Unternehmen, die ihre innovativen Produkte schützen möchten, durch unsere Untersuchung bestmöglich unterstützen, so dass eine eindeutige und juristisch stichhaltige Bewertung von Material- und Grenzflächeneigenschaften zusammen mit Ursache-Wirkungs-Prinzipien in zukünftigen Solarzellenmultilagensystemen möglich sein wird“, ergänzt Dr. Stefan Lange, der Projektleiter von “IP-Schutz“ und kommissarischer Teamleiter „Solarzelldiagnostik“ am Fraunhofer CSP.